Kính hiển vi luyện kim (4X-40X) HINOTEK XJP-403J

Technical Specifications

• Đầu kính: Đầu hai mắt  Compensation Free . Nghiêng 45° ( 50mm -75mm )
• Thị kính: WF10X/20mm; WF10X/20mm với lưới trắc vi 0.1mm
• Nosepiece: Quintuple nosepiece
• Vật kính: 195 vật kính luyện kim 4X/0.1W.D.25mm; 10X/ 0,25W.D .11mm; 20X/0.4WD .9mm; 40X/0,6WD. 3,8mm
• Bàn soi: bàn soi cơ học hai lớp kích thước 242mm × 172mm; phần giữa: Φ110mm; Phạm vi di chuyển: 75mm × 50mm
• Lấy nét: Điều chỉnh lấy nét thô & tinh chỉnh đồng trục với cơ chế giá đỡ và bánh răng tỷ lệ lấy nét tinh chỉnh 0.002mm
• Chiếu sáng: Chiếu sáng Epi-Kohler. Với khẩu độ hình ảnh và khẩu độ trường hình ảnh. 12V/30W.AC85V-230V Có thể điều chỉnh độ sáng
• Bộ lọc: Xanh lam, xanh lục, vàng
• Bộ phân cực: Máy phân tích có thể xoay 360 °, máy phân cực & Máy phân tích có thể trượt vào/ra khỏi đường dẫn quang học
• Dụng cụ kiểm tra: Panme 0.01mm

Package Includes