Kính hiển vi luyện kim HINOTEK XJP-412J

Technical Specifications

• Hệ thống quang học: hệ thống quang học vô hạn
• Đầu kính: Đầu ba mắt Compensation Free nghiêng 45° Khoảng cách giữa các đồng tử có thể điều chỉnh 48mm-75mm
• Thị kính: trường rộng WF10X/22mm; WF10×/20mm với lưới trắc vi 0.1mm
• Vật kính: vật kính B&D infinite Plan với khoảng cách làm việc 5×/0.15（WD14.47mm）; 10×/0.25（WD16.01mm; 20×/0.40（WD10.5mm; 50×/0.55（WD5.1mm）
• Nosepiece: Quintuple Nosepiece với DIC Jack
• Bàn sa: bàn sa trượt hai lớp kích thước 255mm×170mm; Phạm vi di chuyển：70mm×50mm; Bánh xe tay điều chỉnh XY nằm ở vị trí thấp
• Lấy nét: Điều chỉnh lấy nét thô & tinh đồng trục, độ chia 0.001mm
• Nguồn sáng: Chiếu sáng Kohler với màng chắn khẩu độ và màng chắn trường; Bóng đèn Halogen 12V/100W，AC85V-230V; độ sáng có thể điều chỉnh
• Thiết bị phân cực: Máy phân tích có thể xoay 360°, Bộ phân cực, có thể nhìn ra ngoài đường đi của ánh sáng
• Bộ lọc: Xanh lục, Xanh da trời, Trung tính
• Dụng cụ kiểm tra: Panme 0.01mm

Package Includes