Máy đo độ dày lớp phủ trên nền kim loại ElektroPhysik Minitest 650 E-F

Technical Specifications

• Thang đo: 0 – 3mm
• Thang đo hệ inch: 120 mils.
• Khoảng đo tương đối hệ mét: ±(5μm + 5% của giá trị đọc).
• Khoảng đo tương đối hệ inch: ±(0.12 mils + 5% của giá trị đọc).
• Độ phân giải tầm đo thấp: 5μm/0.02 mils.
• Bán kính cong lồi F: > 10mm.
• Bán kính cong lõm F: >50 mm.
• Điểm đo cần có bán kính: >50mm.
• Độ dày nền kim loại từ tính tối thiểu F: 0.7mm
• Đơn vị đo lường: μm, mm hoặc mils, inch.
• Hiệu chuẩn: Hiệu chuẩn của nhà máy, ZERO set point.

Package Includes